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Sonda di durezza del dispositivo di impatto Leeb standard tipo d con cavo a 3 pin

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Punto d'origine
Liaoning, China
Marca
YUSHI
Numero del Modello
Hardness Impact Device D Probe
Product name
Leeb Hardness Tester Impact Devices
Application
Industrial Metal Hardness Test
Standard Model
D Type Probe
Standard Configuration
3 Pin Cable, Brush and Small Supporting Ring.
Type
Standard
Optional Model
DL Type, G Type, C Type, DC Type
Package
Carton
MOQ
1

Imballaggio e consegna

Pacchetto
The Leeb Hardness Tester Impact Devices D Probe packed in carton.
The Leeb hardess probe and 3 Pin Cable, Brush and Small Supporting Ring each one pc.
Order Default Model: D type impact device Leeb probe
More models, feel free contact us please, thanks.
Unità di vendita:
Articolo singolo
Dimensioni della confezione singola:
15X25X1 cm
Peso loro per unità:
0.500 kg

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